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2015-5

適用標準：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗方法》；EN1149-1-1995《防護服靜電性能部分表面電阻檢驗方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與標準IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡膠或...

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2015-3

硅片電阻率測量方法，四探針方阻儀原理

本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.按照硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M標準，本機...

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2015-1

粉末電阻率測試儀組成結構功能說明

粉末電阻率測試儀是為了適應當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準設計的。粉末電阻率測試儀適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。儀器直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強，更方便于用戶，而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末進行電阻、電阻率多用途的測量。適用于有機、無機粉末材料(包括納米級)的電阻率測量，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測...

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2014-12

超細粉體的粉體特性和表面特征

超細粉體的性能與普通的顆粒是有很大的不同的。但顆粒的尺度但到亞微米級尤其是納微米級時，其表面的原子排列和電子分布結構及晶體結構較之普通顆粒均有明顯變化，產(chǎn)生了有別于普通顆粒的表面效應、小尺寸效應、量子效應和量子隧道效應，因此，在某些特殊場合會具有優(yōu)異的物理、化學及表面與界面性質(zhì)。當顆粒尺寸處于微米級時，雖然去物理化學性能與普通顆粒的物理化學性質(zhì)相差不大，但微米級顆粒的比表面積大、表面能高，表面與界面性質(zhì)發(fā)生了很大的變化。如果現(xiàn)貨單一的微米級的超細粉的物理化學性能與普通顆粒相差...

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2014-12

接觸壓降測試儀如何檢測電能計量誤差

接觸壓降測試儀為測試產(chǎn)品提供恒定不變的測量電流，提高測量精度，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。該儀器還具有上限電壓降參數(shù)設置，聲光報警功能。外形美觀大方，顯示清淅直觀，可靠性好等優(yōu)點。專業(yè)用于測試各種開關、繼電器、接觸器、接線座、接線連接器等接觸點兩端間的實際工作電壓降。是科研單位、計量測試部門、生產(chǎn)企業(yè)等單位的*儀器。由于電能計量綜合誤差過大是電能計量中普遍存在的一個關鍵問題，電能計量綜合誤差是由電壓互感器的合成誤差、電流互感器的合成誤差、電度表的誤差、電壓互感器二次導線壓降所引起的計量誤...

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2014-12

顆粒表觀密度測定儀的配置及適用范圍

顆粒表觀密度測定儀主要用于從規(guī)定的漏斗中流出松散物料的表觀密度測定,是化工行業(yè)原料進廠質(zhì)量檢驗等理想的測試儀器。表觀密度測定儀適用于聚氯乙烯樹脂原料從大于100mL±0.5mL的漏斗中流出塑料松散物，當松散塑料流100mL±0.5mL的標準容器中后，再用直尺刮去標準容器上的多余試樣，然后用天平稱其重量，用下式進行計算ρ=M—m/V,得出表觀密度值，該儀器是化工行業(yè)以及塑料原料質(zhì)量檢驗的測試儀器。表觀密度測定儀*符合標準的規(guī)定，具有體積小、設計合理、...

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2014-12

粉末振實密度儀的性質(zhì)和功能簡介

可壓縮系數(shù)和Hausner比是反映粉末振實密度儀被壓縮時的性質(zhì)，同時也反映了顆粒間的相互作用。流動性差的振實密度儀，顆粒間的相互作用比較明顯，堆積密度和振實密度測得值差異比較大。這些差別反映在振實密度儀的可壓縮系數(shù)和Hausner比。流動性好的振實密度儀，顆粒間的相互作用不明顯，堆積密度和拍填密度值比較接近。這樣的比較經(jīng)常用來作為振實密度儀流動的能力指標，例如下文中所述的可壓縮性系數(shù)或豪斯納比。因為粒子間相互作用影響振實密度儀膨脹系數(shù)同時也會干擾振實密度儀的流動，在給定粉末振...

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2014-11

四探針電阻率測試儀的配置特點和技術參數(shù)

四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份測試架及四探針頭組成。本儀器的特點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探...

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